膜厚测定装置
自动绝对反射率测量装置一边变化照到样品的入射角,一边测量反射率以及透过。用于太阳能电池零件,半导体,薄膜,光学元件等各种固体样品的分光特性或者膜厚等的测量。入射角通过旋转样品台设定,受光角通过滑动积分球控制。另外,能用非同步方式分别设定入射角和受光角
钻井岩心成分分析(土壤成分分析)
SisuRock系统通过对钻芯等地质样品进行自动高光谱扫描,能够快速获得高光谱图像数据库,研究人员可以提取使用传统方法无法发现的丰富信息。
单道扫描ICP光谱仪
电话:13521683201,李新路,由我公司研发,生产的原子发射光谱仪,能进行多种元素分析,且分析速度极快,应用面广,可分析70多种元素,包括周期表中所有的金属元素和部分非金属元素。该型仪器稳定性好、测量范围宽、检出下限低、分辨率高、灵敏度高。
FWS-750、FWS-1000、ICP-1000II
我司北京华洋公司(1989成立)所产仪器均自行研发生产,不论从检出限、灵敏度、精密度等多项技术指标都达到甚至超过国家行业标准,公司成立至今已有21年历史,公司技术实力雄厚.仪器价格实惠性能优良稳定,有良好的售后服务,欢迎来电垂询.( 深圳办事处 黄敬华 13632977860